F-SLGS1040 雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)

        F-SLGS1040 雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)
        • 調(diào)整光路,觀察分波面干涉的干涉條紋,體會(huì)分波面的干涉原理和干涉理論。
        • 測(cè)量干涉條紋的間隔,推算激光波長(zhǎng)。
        • 光學(xué)實(shí)驗(yàn)導(dǎo)軌:1200mm。
        • 半導(dǎo)體激光器:650nm, 4mW。
        • 透鏡(帶框): f=100mm,f=60mm,通光直徑:38mm。
        • 激光功率指示計(jì):三位半數(shù)字表頭,量程:200μW, 2mW, 20mW, 200mW,可調(diào)檔。最小分辨率0.1u W。
        • 大一維位移架+12檔光探頭:位移范圍100mm,精度0.02mm,光欄直徑:0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度:0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。
        • 一維可調(diào)導(dǎo)軌滑塊:調(diào)整范圍:10mm。
         
                采用高穩(wěn)定度和長(zhǎng)相干性的半導(dǎo)體激光器作為光源,以帶有小孔和狹縫光欄的功率計(jì)作為光強(qiáng)分布的探測(cè)器,與傳統(tǒng)的讀數(shù)顯微鏡方案相比,本實(shí)驗(yàn)采用的方案更加客觀準(zhǔn)確。
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